| Адрес и телефон "SHIMADZU, ПТФ"
XRF-1800 волновой рентгенофлуоресцентный спектрометр последовательного действия
•Определяемые элементы: 4Be – 92U.
•Локальный анализ и картирование элементов с шагом 250 мкм (патент).
•Качественный/количественный анализ с использованием линий высших порядков (патент).
•Определение толщины и элементного состава плёнок и покрытий.
•Анализ методом фундаментальных параметров и калибровочных кривых с учётом матричной коррекции.
•10 кристаллов, 5 первичных фильтров, 5 коллиматоров.
цена: 0 р.
|
